پایان نامه

 

مقاله روش جدید تولید الگوی آزمایش مبتنی بر الگوریتم ژنتیک، برای آزمایش مدارات الکترونیکی تحت pdf دارای 6 صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله روش جدید تولید الگوی آزمایش مبتنی بر الگوریتم ژنتیک، برای آزمایش مدارات الکترونیکی تحت pdf کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.

این پروژه توسط مرکز مرکز پروژه های دانشجویی آماده و تنظیم شده است

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله روش جدید تولید الگوی آزمایش مبتنی بر الگوریتم ژنتیک، برای آزمایش مدارات الکترونیکی تحت pdf ،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد

---

بخشی از متن مقاله روش جدید تولید الگوی آزمایش مبتنی بر الگوریتم ژنتیک، برای آزمایش مدارات الکترونیکی تحت pdf :

سال انتشار: 1388

محل انتشار: دومین کنفرانس ملی مهندسی برق

تعداد صفحات: 6

چکیده:

پیشرفت روز افزون علم الکترونیک همواره باعث تولید مدارات پیچیده و تر بوجود آمدن مدارات چند منظوره با وظیفه مندیهای پیچیده و حیاتی شده است. کاهش هزینه های تولید و حجم سخت افزاری، همچنین افزایش قابلیت اطمینان و اتکاپذیری این سیستم ها همواره چالشهای بزرگی سر راه محققان می باشند، آزمایش مرحله به مرحله مدارات در طی فرایند ساخت و آزمایش مدارات قبل زا ورود به بازار به عنوان یکی از تکنیکهای افزایش قابلیت اطمینان مطرح می شود. یکی از مهمترین مسائل انجام آزمایش، تولید الگوی آزمایش بهینه می باشد؛ که بتوان الگوهایی با طول کوتاهتر و تعداد کمتر تولید نمود. در این مقاله ضمن بررسی روشهای مختلف ارائه شده برای تولید الگوی آزمایش، مانند روشهای شبه تصادفی و روش فراگیر، یک روش تولید الگوی آزمایش مبتنی بر الگوریتم ژنتیک ارائه می دهیم؛ که قادر است برای آزمایش مدارات با تعداد ورودیهای زیاد الگوهای آزمایش بهینه ای تولید کند. الگوریتم ارائه شده را با الگوریتم شبه تصادفی که از پر کاربردترین روشهای تولید الگوی آزمایش می باشد مقایسه می کنیم. نتایج بدست آمده بر روی مدارهای ISCAS’85 نشان می دهد که الگوریتم ارائه شده بسیار بهتر از روش های ارائه شده قبلی عمل می کند؛ بعلاوه اینکه مجموعه الگوهای آزمایش تولید شده با این الگوریتم بسیار فشرده تر هستند.

 

کلمات کلیدی :