سفارش تبلیغ
صبا ویژن

مقاله بهبود مصرف انرژی، تحملپذیری خطا و تأخیر در زنجیرههای اسکن

 

برای دریافت پروژه اینجا کلیک کنید

مقاله بهبود مصرف انرژی، تحملپذیری خطا و تأخیر در زنجیرههای اسکن تحت pdf دارای 10 صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است

فایل ورد مقاله بهبود مصرف انرژی، تحملپذیری خطا و تأخیر در زنجیرههای اسکن تحت pdf کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.

این پروژه توسط مرکز مرکز پروژه های دانشجویی آماده و تنظیم شده است

توجه : در صورت  مشاهده  بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله بهبود مصرف انرژی، تحملپذیری خطا و تأخیر در زنجیرههای اسکن تحت pdf ،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد


بخشی از متن مقاله بهبود مصرف انرژی، تحملپذیری خطا و تأخیر در زنجیرههای اسکن تحت pdf :

سال انتشار: 1387

محل انتشار: یازدهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق

تعداد صفحات: 10

نویسنده(ها):

غلامرضا لطیف شبگاهی – دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
رضا کردی – دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک
عرفان علمدار – دانشگاه آزاد اسلامی واحد اراک

چکیده:

امروزه مدارات دیجیتال پیچیدهتر شدهاند و بایستی قبل از تولید انبوه این تراشهها از نحوه عملکرد صحیح آنها اطمینان حاصل نمود . بررسی اتلاف نیرو در طول زمان تست مهم میباشد زیرا نیروی تلف شده در فاز تست مدار از نیروی تلف شده در فاز عملیاتی مدار بیشتر است و این امر میتواند قابلیت اطمینان مدار تحت آزمایش را بدلیل دمای بالاتر و چگالی جریان کاهش دهد. درضمن بایستی این تجهیزات در برابر خطاهای احتمالی نیز تحمل پذیر باشند. ما به تکنیکهایی میپردازیم که میکوشند در زمان تست بخش ترتیبی ، با حذف یا به حداقل رساندن سوئیچینگ در بخش ترکیبی مدار اتلاف نیرو را به حداقل برسانند و نیز کوشیدهایم این روشها را از لحاظ مصرف نیرو ، تأخیر و تحملپذیری خطا بررسی کنیم .نتایج نشان میدهد که روش انسدادی مبتنی بر گیت NORمصرف نیرو، تحمل پذیری ، NMOS و PMOS بیشترین مصرف نیرو ، تحملپذیری خطا و تأخیر را دارد و استفاده از ترانزیستور افزونه خطا و تأخیر متوسط را نشان میدهد و روشی که از تقسیمبندی زنجیرههای اسکن استفاده میکند کمترین مصرف نیرو ، تحملپذیری خطا و تأخیر را نشان میدهد که با توجه به کاربرد تراشه ، میتوان از این روشها در تراشه استفاده نمود.

 

برای دریافت پروژه اینجا کلیک کنید

کلمات کلیدی :